图：Inductiveload · Public domain · Wikimedia Commons

尔利效应1952

Early effect

variation in the effective width of the base in a bipolar junction transistor due to a variation in the applied base-to-collector voltage

厄利效应，又译厄尔利效应或译欧莱效应，也称基区宽度调制效应，是指当双极性晶体管（BJT）的集电极－发射极电压VCE改变，基极－集电极耗尽宽度WB-C（耗尽区大小）也会跟着改变。此变化称为厄利效应，由詹姆斯·M·厄利所发现。