摩尔定律

图:Max Roser, Hannah Ritchie · CC BY 4.0 · Wikimedia Commons

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摩尔定律1975

Moore's law

启发式法则规定电路上的晶体管数量每两年增加一倍

摩尔定律指一种观点:集成电路上的晶体管数目大约每两年翻一番,而成本几乎不增加。虽名为“定律”,描述的却是一种经验关系,而非科学定律。这类观测属于经验曲线效应,把生产中由经验积累带来的效率提升加以量化。

摘自维基百科「摩尔定律」,CC BY-SA 4.0

类型
经验法则、原理
时间
1975 年
命名来源
戈登·摩尔
学科
物理学
开始时间
1975 年

相关科学家

百科正文

这一观测以戈登·摩尔命名。摩尔是仙童半导体和英特尔的联合创始人,还曾担任英特尔首席执行官。1965年他注意到,每块集成电路上的器件数目一直以每年翻一番的速度增长,并预计这一增速至少还会持续十年。1975年展望下一个十年时,他把预测修正为每两年翻一番,相当于41%的复合年增长率。摩尔掌握的经验证据并不意味着历史趋势必然延续,但他的预测自1975年以来一直成立,“定律”之名也由此传开。

摩尔的预测一直被半导体工业用以指导长期规划、设置研究与开发目标。数字电子领域的诸多进展都与摩尔定律密切相关,比如微处理器经质量调整的价格下降、存储器(内存和闪存)容量提升、传感器改进,乃至数码相机中像素的数量和尺寸。数字电子领域这些持续的变化,一直是技术与社会变革、生产率提升和经济增长的推动力。

摩尔定律究竟会在何时失效,业内专家并无共识。微处理器架构师反映,大约从2010年起,全行业的半导体进展已经放缓,略低于摩尔定律预测的速度。2022年9月,英伟达首席执行官黄仁勋认为摩尔定律已经终结,而英特尔时任首席执行官帕特·基辛格的看法恰好相反。

历史

1959年,道格拉斯·恩格尔巴特研究了集成电路(IC)尺寸预计不断缩小的问题,并在文章《Microelectronics, and the Art of Similitude》中发表了结果。 恩格尔巴特在1960年的国际固态电路会议上介绍了自己的发现,当时摩尔就在听众席上。

1965年,时任仙童半导体研发主管的戈登·摩尔受邀,为《Electronics》杂志创刊35周年纪念刊撰文,预测未来十年半导体器件工业的走向。 他交稿的是一篇短文,题为《Cramming more components onto integrated circuits》。 他在文中推测,到1975年,在四分之一平方英寸(约1.6 cm2)大小的一块半导体上,有望容纳多达65000个器件。

在器件成本最低的条件下,复杂度大致以每年翻一番的速度增长。短期内这一速度即便不加快,预计也会继续保持。长期看增速略有不确定性,但没有理由认为它在至少十年内不会基本保持恒定。

摩尔提出,器件复杂度(即在成本降低的同时提高电路密度)与时间之间存在一种对数线性关系。 在2015年的一次访谈中,摩尔谈起1965年那篇文章时说:“……我只是大胆外推,说接下来十年它会继续每年翻一番。” 研究这一定律的一位历史学家援引斯蒂格勒定律,说明器件定期翻倍的现象当时业内许多人都已知道。

1974年,IBM的罗伯特·登纳德注意到MOSFET快速缩放技术,提出了后来被称为登纳德缩放的规律:随着MOS晶体管尺寸缩小,其功率密度保持不变,因此功耗与面积成正比。 半导体行业的情况表明,功率密度与面密度之间的这种反比关系在2000年代中期被打破。

在1975年的国际电子器件会议上,摩尔修正了自己预测的增速, 他预计半导体复杂度到1980年前后仍会每年翻一番,之后降到大约每两年翻一番。 他列举了促成这种指数式变化的几个因素:

金属氧化物半导体(MOS)技术的出现

晶粒尺寸呈指数级增大,同时缺陷密度下降,因此半导体制造商可以在更大面积上生产,又不损失良率

更小的最小线宽

主要促成因素

自集成电路时代开启以来,科学家和工程师的众多创新支撑着摩尔定律。下面列出其中一些关键创新,它们推动了集成电路和半导体器件制造技术的突破,使晶体管数量在不到五十年里增长了七个数量级以上。

集成电路(IC):摩尔定律存在的根本前提。锗制混合集成电路1958年由德州仪器的杰克·基尔比发明, 随后硅制单片集成电路芯片于1959年由仙童半导体的罗伯特·诺伊斯发明。

互补金属氧化物半导体(CMOS):CMOS工艺1963年由仙童半导体的萨支唐和弗兰克·万拉斯发明。

动态随机存取存储器(DRAM):1967年由IBM的罗伯特·登纳德研制。

化学放大光刻胶:约1980年由IBM的伊藤弘、C. Grant Willson和J. M. J. Fréchet发明, 它对紫外光的灵敏度高出5到10倍。 20世纪80年代中期,IBM把化学放大光刻胶用于DRAM生产。

深紫外准分子激光光刻:由Kanti Jain 约1980年在IBM发明。 在此之前,准分子激光器自20世纪70年代问世以来主要用作研究设备。 从更广阔的科学视角看,准分子激光光刻的发明被视为激光50年历史上的重要里程碑之一。

互连创新:20世纪90年代末的互连创新,包括化学机械抛光(CMP)、沟槽隔离和铜互连,虽不是把晶体管做得更小的直接因素,却提高了晶圆良率,得以增加金属布线层数、缩小器件间距、降低电阻。

计算机行业的技术路线图在2001年曾预测,摩尔定律还会延续几代芯片。

近期趋势

设计未来纳米电子晶体管,关键技术难题之一是栅极设计。器件尺寸缩小后,要控制薄沟道中的电流变得更难。现代纳米级晶体管通常采用多栅MOSFET形式,其中FinFET最常见,沟道三面都有栅介质。相比之下,全栅MOSFET(GAAFET)结构的栅极控制能力更强。

替代材料研究

如今集成电路上的绝大多数晶体管,主要由掺杂硅及其合金构成。 当硅被制成只有几纳米的晶体管时,短沟道效应会损害硅作为可用晶体管应有的材料特性。 下面列举几种制造小尺寸纳米晶体管时可替代硅的材料。

一种被提出的材料是砷化铟镓(InGaAs)。 与硅和锗晶体管相比,InGaAs晶体管在未来高速、低功耗逻辑应用中更有前景。 由于III-V族化合物半导体的固有特性,基于InGaAs的量子阱和隧穿效应晶体管,已被提出作为更传统MOSFET设计的替代方案。

21世纪初,美光科技的Gurtej Singh Sandhu发明了原子层沉积高κ薄膜和节距双重图案化工艺,把平面CMOS技术的摩尔定律延续到30 nm级别乃至更小。

2009年,英特尔宣布研制出80 nm的InGaAs量子阱晶体管。量子阱器件把一种材料夹在两层带隙更宽的材料之间。尽管尺寸是当时领先的纯硅晶体管的两倍,英特尔称其性能相当而功耗更低。

2011年,英特尔研究人员演示了三维三栅极InGaAs晶体管,漏电特性较传统平面设计有所改善。公司称该设计在所有III-V族化合物半导体晶体管中实现了最佳的静电特性。 在2015年国际固态电路会议上,英特尔提到其7 nm节点会基于这种架构使用III-V族化合物。

2011年,得克萨斯大学奥斯汀分校研究人员研制出InGaAs隧穿场效应晶体管,工作电流高于以往设计。最早的III-V族TFET设计于2009年由康奈尔大学和宾夕法尼亚州立大学的联合团队演示。

2012年,麻省理工学院微系统技术实验室的团队研制出基于InGaAs的22 nm晶体管,是当时有史以来最小的非硅晶体管。团队采用硅器件制造中使用的技术,目标是提升电气性能并缩小到10纳米尺度。

生物计算研究表明,与基于硅的计算相比,生物材料具有更优的信息密度和能效。

预测与路线图

2005年4月,戈登·摩尔在一次访谈中表示,这一预测不可能无限期维持:“它不可能永远继续。指数的本质是你不断把它往前推,最终会招来灾难。”他还指出,晶体管最终会在原子层面达到小型化极限:

从(晶体管的)尺寸上看,我们正在接近原子尺寸,那是一道根本性的壁垒,但还要再过两三代才能走到那一步,而这已经是目力所及的最远之处。我们还有10到20年才会触及根本极限,到那时人们将能造出更大的芯片,晶体管数量可达数十亿。2016年,国际半导体技术路线图发布了最后一份路线图;自1998年以来该路线图一直用摩尔定律引领行业。它不再把研发计划围绕摩尔定律展开,而是勾勒出一种可称为“超越摩尔”的战略:由应用需求驱动芯片开发,而不是专注于半导体缩放,应用驱动力涵盖智能手机、人工智能和数据中心。

电气电子工程师学会于2016年启动名为“重启计算”的路线图工作,即器件与系统国际路线图(IRDS)。

包括戈登·摩尔在内的部分预测者,在2012至2016年间预测摩尔定律会在2025年前后终结。 尽管摩尔定律会触及物理极限,2019和2020年仍有一些预测者对其他诸多领域的技术进步延续持乐观态度,包括新的芯片架构、量子计算以及人工智能和机器学习。 英伟达首席执行官黄仁勋2022年宣称摩尔定律已死; 几天后,英特尔首席执行官帕特·基辛格以相反的说法予以反驳。

后果

20世纪末至21世纪初,数字电子技术为世界经济增长作出了贡献。 经济增长的首要推动力是生产率的提高,摩尔定律正是其中的一个因素。 摩尔(1995年)预计,“技术进步的速度将受到财务现实的制约”。 但20世纪90年代末前后,相反的情况可能出现、也确实出现了,经济学家指出:“生产率增长是创新的关键经济指标。” 摩尔定律所描述的,正是技术与社会变革、生产率提升和经济增长的一股推动力。

半导体进步速度的加快,推动美国生产率增长大幅提速,1997至2004年间达到每年3.4%,高于1972至1996年以及2005至2013年两段时期每年1.6%的水平。 正如经济学家理查德·G·安德森所指出的:“众多研究把生产率加速的原因追溯到半导体生产中的技术创新,这些创新大幅降低了这类器件以及含这些器件的产品的价格,同时也扩展了这些产品的能力。”

摩尔定律主要的负面含义在于,它伴随着快速的淘汰和随之而来的高昂维护成本。技术继续快速改进,会让此前的技术变得过时。在硬件或数据的安全与存续至关重要、或资源有限的情况下,快速淘汰往往会给顺畅或持续的运行造成障碍。

其他表述与类似观察

数字技术有若干指标正以与摩尔定律相关的指数速度改进,包括器件的尺寸、成本、密度和速度。摩尔只写到器件密度,用他的话说,“器件可以是晶体管、电阻、二极管或电容器”,这里说的都是最低成本下的情况。

每块集成电路的晶体管数:最流行的表述是集成电路上晶体管数量每两年翻一番。20世纪70年代末,摩尔定律被视为最复杂芯片上晶体管数量的极限,本文顶部的图表表明这一趋势如今依然成立。 截至2025年,市售处理器中晶体管数量最多的之一是GB202图形处理器,晶体管超过922亿个。

每个晶体管成本最低时的密度:这是摩尔1965年论文给出的表述。 它关注的不只是能够达到的晶体管密度,而是每个晶体管成本最低时的晶体管密度。

一块芯片上放置的晶体管越多,制造每个晶体管的成本越低,但芯片因缺陷而无法工作的概率也越高。 1965年摩尔研究了成本最低时的晶体管密度,并观察到随着光刻技术进步把晶体管做得更小,这一数目将“以大致每年翻一番的速度”增长。

登纳德缩放:它认为功耗会与晶体管面积成比例下降,电压和电流都与长度成比例。 与摩尔定律结合,每瓦性能将以与晶体管密度大致相同的速度增长,每1到2年翻一番。 按照登纳德缩放,每一代技术晶体管尺寸缩小30%(0.7倍),面积因此减小50%。 延迟随之降低30%(0.7倍),工作频率因此提高约40%(1.4倍)。 最后,为保持电场恒定,电压降低30%,能耗减少65%,功耗(在1.4倍频率下)降低50%。 因此每一代技术晶体管密度翻一番,电路速度提高40%,而功耗(在晶体管数量翻倍的情况下)保持不变。 由于漏电电流,登纳德缩放在2005至2010年间终结。

摩尔所预测的处理器晶体管指数级增长,并不总能转化为实际CPU性能的指数级提升。 大约从2005至2007年起登纳德缩放终结,所以即便摩尔定律在那之后仍在延续,也没有带来成比例的性能提升回报。 这种失效被援引的主要原因是,尺寸很小时漏电带来更大难题,还会使芯片发热,造成热失控风险,进而进一步抬高能耗成本。

以上节选摘自维基百科「摩尔定律」,按 CC BY-SA 4.0 使用,去掉了参考文献、外部链接等尾部小节,公式改写成了纯文本。篇幅所限,较长的小节只摘了开头一部分,有的小节没有收;全文、配图和出处见原文。

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